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有許多因素會影響老化房老化測試系統(tǒng)的整體性能，下面是一些主要方面：
1．老化房計算機主機與測試系統(tǒng)之間的通信。由于功能測試程序非常長，因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些系統(tǒng)使用較慢的串行通信，如RS-232C或者類似協(xié)議，而另一些系統(tǒng)則使用雙向并行總線系統(tǒng)，大大提高了數(shù)據(jù)流通率。
2．根據(jù)時間動態(tài)改變測試參數(shù)的能力，如電壓與頻率。如果老化測試系統(tǒng)能夠即時改變參數(shù)，則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現(xiàn)。對于某些器件結(jié)構，直流電壓偏置及動態(tài)信號的功率變動都可加速出現(xiàn)晚期壽命故障。
3．系統(tǒng)提供參數(shù)測試的能力。如果老化測試系統(tǒng)能進行一些速度測試，那么還可得到其他一些相關失效數(shù)據(jù)以進行可靠性研究，這也有助于精簡老化后測試工藝。
4．對高速測試儀程序的下載及轉(zhuǎn)換能力。有些老化測試系統(tǒng)有自己的測試語言，對需要做100%節(jié)點切換的被測器件不用再開發(fā)程序；而有些系統(tǒng)能夠把高速測試儀程序直接轉(zhuǎn)換到老化應用上，可以在老化過程中進行更準確的測試。
5．計算機接口與數(shù)據(jù)采集方式。有些老化測試系統(tǒng)采用分區(qū)方法，一個數(shù)據(jù)采集主機控制多個老化板，另外有些系統(tǒng)則是單板式采集。從實際情況來看，單板式方法可以采集到更多數(shù)據(jù)，而且可能還具有更大的測試產(chǎn)量。
6．首先是老化房測試方法的選擇。理想的情況是器件在老化工藝上花費的時間最少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現(xiàn)，因此能快速進行反復測試的系統(tǒng)可減少總體老化時間。每單位時間里內(nèi)部節(jié)點切換次數(shù)越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現(xiàn)得更快。
7．老化房老化板互連性、PCB設計以及偏置電路的復雜性。老化測試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速測試，但是，如果機械連接或老化板本身特性會削弱信號質(zhì)量，那么測試速度將會是一個問題。如像過多機電性連接會增大整個系統(tǒng)的總電容和電感、老化板設計不良會產(chǎn)生噪聲和串擾、而很差的引腳驅(qū)動器設計則會使快速信號沿所需的驅(qū)動電流大小受到限制等等，這些都僅是一部分影響速度的瓶頸，另外由于負載過大并存在阻抗、電路偏置以及保護元件值的選擇等也會使老化的性能受到影響。